隨著科技的(de)不斷發展，電(dian)子產品不斷的(de)更新(xin)換(huan)代，對(dui)產品的(de)要求也越來(lai)越高，pcb產品會經過多重(zhong)測(ce)試，那么pcb常用的(de)測(ce)試方式(shi)有哪些(xie)呢，下(xia)面小編來(lai)詳(xiang)細的(de)說一說。

　　電路板的測試方式

　　1、飛針測試(shi)機(Flying-ProbeTester)

　　飛針測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)機(ji)也稱為(wei)探針測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)機(ji)，也是一(yi)種常用的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)方(fang)法。由于在(zai)機(ji)械精度、速度和可靠性方(fang)面的(de)(de)(de)進步，它(ta)在(zai)過去幾年中(zhong)已經受到了普遍歡(huan)迎。此外，現在(zai)對于原型(Prototype)制(zhi)造、低產量制(zhi)造所(suo)需(xu)要(yao)的(de)(de)(de)具有快速轉換、無夾具能力(li)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)系統的(de)(de)(de)要(yao)求(qiu)，使得飛針測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)成為(wei)最佳選擇。

　　飛針測試機的主要優點是，它是最快速的到達市場時間(TimeToMarket)的工具，自動生成測試，無夾具成本，良好的診斷和易于編程。

　　2、自動光(guang)學檢查(AutomatedOpticalInspection，AOI)

　　這種(zhong)測試方法也稱為自動視(shi)覺測試，通常(chang)在回流前后使用，是(shi)較新的(de)確認(ren)制造缺陷的(de)方法，對元器(qi)(qi)件的(de)極性、元器(qi)(qi)件是(shi)否(fou)存在的(de)檢查效果(guo)比較好。它是(shi)一(yi)種(zhong)非電(dian)氣的(de)、無(wu)夾(jia)具的(de)在線技(ji)術。其主(zhu)要優點(dian)(dian)是(shi)易(yi)(yi)于跟隨診斷、程序容易(yi)(yi)開(kai)發(fa)和無(wu)夾(jia)具;主(zhu)要缺點(dian)(dian)是(shi)對短路識別較差，且不(bu)是(shi)電(dian)氣測試。

　　3、手工視覺測試

　　手工視覺(jue)測試是(shi)通(tong)過人的(de)(de)視覺(jue)與比(bi)較來確認(ren)PCB上的(de)(de)元件貼裝，這種技術是(shi)使用(yong)(yong)最(zui)為(wei)廣(guang)泛的(de)(de)在線(xian)測試方法(fa)之一。但是(shi)隨著產量的(de)(de)增加(jia)和電路板及(ji)元件的(de)(de)縮(suo)小，這個方法(fa)越(yue)來越(yue)不(bu)適(shi)用(yong)(yong)了(le)。低的(de)(de)預先成本(ben)和沒有(you)測試夾具(ju)是(shi)它(ta)的(de)(de)主(zhu)要(yao)優(you)點;同時，很高的(de)(de)長期(qi)成本(ben)、不(bu)連續的(de)(de)缺陷(xian)發覺(jue)、數據(ju)收集(ji)困(kun)難、無電氣測試和視覺(jue)上的(de)(de)局(ju)限(xian)也(ye)是(shi)這種方法(fa)的(de)(de)主(zhu)要(yao)缺點。

　　4、功能測試(FunctionalTest)

　　功(gong)能(neng)測(ce)(ce)試(shi)是(shi)最早的(de)自(zi)動測(ce)(ce)試(shi)原理，它是(shi)特定PCB或(huo)特定單元的(de)基本測(ce)(ce)試(shi)方法，可用(yong)各種測(ce)(ce)試(shi)設(she)備來(lai)完成。功(gong)能(neng)測(ce)(ce)試(shi)主要有最終產品測(ce)(ce)試(shi)(FinalProductTest)和最新實體模型(HotMock-up)兩種。

　　5、制造缺陷分(fen)析儀(ManufacturingDefectAnalyzer，MDA)

　　MDA是(shi)一種用于(yu)高產量/低混合環境中(zhong)只診(zhen)斷制造缺(que)(que)陷的(de)好工具。這(zhe)種測試(shi)方(fang)法的(de)主(zhu)(zhu)要(yao)優點是(shi)前期成(cheng)本較低，高輸(shu)出(chu)，容易跟隨診(zhen)斷和(he)快(kuai)速完全的(de)短路以及(ji)開路測試(shi)等;主(zhu)(zhu)要(yao)缺(que)(que)點是(shi)不能(neng)(neng)進(jin)行功能(neng)(neng)測試(shi)，通常沒有(you)測試(shi)覆(fu)蓋指示，必須使用夾具，測試(shi)成(cheng)本高等。

　　以上就(jiu)是小(xiao)編(bian)整理(li)的(de)(de)(de)關于(yu)pcb電(dian)路板常見(jian)的(de)(de)(de)五(wu)種測(ce)試方(fang)式(shi)，希望對大家(jia)有(you)所(suo)幫助，如還有(you)不清楚的(de)(de)(de)地(di)方(fang)，請聯系右側的(de)(de)(de)QQ、微信或者電(dian)話，我們(men)會有(you)專業的(de)(de)(de)人員(yuan)為(wei)您解答。